EEC華儀 ESM-530 MultiPRO安規(guī)綜合測(cè)試平臺(tái)可針對(duì)測(cè)試需求自行搭配不同容量, 功能之模塊, 延續(xù)華儀的高效產(chǎn)能與高可靠性, 更以高適應(yīng)性的模塊化設(shè)計(jì)為各式產(chǎn)線規(guī)畫(huà)提供合適的解決方案。

多種多功能模塊, 自行定義組合

EEC華儀 ESM-530 MultiPRO安規(guī)綜合測(cè)試平臺(tái)提供交流耐壓(ACW)、直流耐壓(DCW)、絕緣阻抗 (IR)、絕緣阻抗 (IR)多功能模塊，可依據(jù)您的測(cè)試需求自行搭配成合適之解決方案。

輕巧彈性模塊, 延續(xù)華儀一貫效能

將經(jīng)典EST-300系列安規(guī)分析儀同等的高效性能包裝至不同彈性模塊內(nèi)，滿足各式產(chǎn)業(yè)應(yīng)用需求。

多達(dá)100通道同步測(cè)試

可并聯(lián)多臺(tái)同步測(cè)試(同時(shí)/同相位輸出)，提升測(cè)試速度。

單/雙通道獨(dú)立模塊設(shè)計(jì)

采全隔離獨(dú)立通道設(shè)計(jì)，確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性并強(qiáng)化通道間抗干擾能力。

減少備品成本，降低維修負(fù)擔(dān)

全模塊化設(shè)計(jì)，可迅速替換備用模塊排除故障，降低維修與備品成本并有效縮減產(chǎn)線停機(jī)時(shí)間。

各通道結(jié)果獨(dú)立判讀

各通道可獨(dú)立判讀測(cè)試結(jié)果，提高產(chǎn)能并減少誤判機(jī)率。

簡(jiǎn)易直覺(jué)操作

內(nèi)建處理器，讓您無(wú)須連接計(jì)算機(jī)即可直接執(zhí)行掃描與采集數(shù)據(jù)，進(jìn)一步提升作業(yè)效率。

華儀ARC偵測(cè)電路

以40多年經(jīng)驗(yàn)打造之ARC檢測(cè)電路，透過(guò)可調(diào)式上限設(shè)計(jì)保護(hù)待測(cè)物不受電弧損壞，為您的產(chǎn)品安全把關(guān)。